產(chǎn)品名稱：LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測(cè)試范圍: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探測(cè)單元：86、96

激光類型:進(jìn)口光纖半導(dǎo)體激光器

【易仕特主營(yíng)產(chǎn)品包括干法激光粒度儀，濕法激光粒度儀，干濕一體激光粒度儀，噴霧激光粒度儀，圖像粒度分析儀，固體密度計(jì)，液體密度計(jì)，在線密度計(jì)，快速水分測(cè)試儀，粉末測(cè)試儀器等等檢測(cè)設(shè)備。】

LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

LAP-W2000濕法激光粒度儀
首先感謝您對(duì)LAP-W2000濕法智能全自動(dòng)激光粒度分析儀的關(guān)注！
LAP-W2000是我公司傾力研發(fā)的產(chǎn)品，自上市以來(lái)贏得了廣大客戶的*好評(píng)。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會(huì)聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無(wú)縫銜接測(cè)試方法，保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒測(cè)試過(guò)程中無(wú)顆粒沉積現(xiàn)象，測(cè)試排水后無(wú)廢液積存現(xiàn)象，保證了第二次測(cè)試精度，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠；同時(shí)采取了管道無(wú)殘留設(shè)計(jì)，保證了測(cè)試不同樣品的準(zhǔn)確性。*的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng)彰顯出LAP-W2000*優(yōu)勢(shì)。

適用范圍：

LAP-D800干法激光粒度儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
LAP-W2000激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：
*的光路設(shè)計(jì)：LAP-W2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)保證在較短的焦距獲得大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測(cè)單元，讓6100-C擁有了*的小顆粒測(cè)試能力，高密度探測(cè)單元使LAP-W2000具有*的全量程無(wú)縫測(cè)試能力，高配版采用了雙光路設(shè)計(jì)。
防塵、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾，使結(jié)果測(cè)試更穩(wěn)定可靠。
自動(dòng)對(duì)中：自行研制的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)包括步進(jìn)電機(jī)、精密導(dǎo)軌、精密控制器以及軟件系統(tǒng)組成，較小步距1微米，保證激光束焦點(diǎn)始終從探測(cè)器中心點(diǎn)穿過(guò)，提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性以及測(cè)試的重復(fù)性。自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)是易仕特所有型號(hào)激光粒度儀的標(biāo)準(zhǔn)配置。
智能全自動(dòng)操作模式：軟件實(shí)現(xiàn)一鍵式操作，自動(dòng)進(jìn)水、自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)清洗，整個(gè)測(cè)試過(guò)程實(shí)現(xiàn)一鍵式全自動(dòng)操作，使用方便快捷。
*微量循環(huán)系統(tǒng)：整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，分散介質(zhì)大于180毫升即可循環(huán)測(cè)試，真正達(dá)到了微量循環(huán)測(cè)試；所有接頭采用了速插快擰設(shè)計(jì)，短時(shí)間內(nèi)即可更換全部管道；優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無(wú)廢夜殘留，保證了下一次測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
超寬量程：LAP-W2000量程達(dá)到了0. 1μm～2000μm。
超聲防干燒：LAP-W2000配備了100W大功率超聲，同時(shí)具有超聲防干燒功能。
誤操作保護(hù)：LAP-W2000具有自我保護(hù)功能，對(duì)一些會(huì)損害儀器的誤操作不響應(yīng)，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。
露點(diǎn)測(cè)量：樣品窗結(jié)霧會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性，這樣的測(cè)試結(jié)果沒(méi)有實(shí)際意義，LAP-W2000加裝了有霧點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)，一旦起霧軟件會(huì)自動(dòng)提示。
免排氣泡設(shè)計(jì)：全新的設(shè)計(jì)使整個(gè)測(cè)試過(guò)程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測(cè)試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術(shù)我們*擁有）。
樣品無(wú)殘留設(shè)計(jì)：儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無(wú)積液殘留，避免對(duì)下一次測(cè)試數(shù)據(jù)的影響；干法測(cè)試同樣進(jìn)行了無(wú)殘留設(shè)計(jì)。
樣品窗快換裝置：全新設(shè)計(jì)的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過(guò)程）。

穩(wěn)定性及重復(fù)性達(dá)到國(guó)外儀器標(biāo)準(zhǔn)

 LAP-W2000濕法激光粒度儀廠家

主要技術(shù)參數(shù)：

激光粒度儀樣品測(cè)試報(bào)告